對(duì)于復(fù)雜形狀的葉片,提高CT檢測(cè)電壓,可以抑制成像過(guò)程中的噪聲以及校正射線束的硬化,是高成像信噪比,進(jìn)而獲得高質(zhì)量的,不同掃描電壓下的葉片截面成像(散射線未校正)，不同掃描電壓下的葉片邊界提取結(jié)果(散射線未校）。

4種不同電玉下均有部分邊界無(wú)法完全識(shí)別,但隨著電壓的升高,提邊界與葉片實(shí)際邊界的一致性逐漸提高。在較低電國(guó)下,提取的邊界彎曲,不光滑,存在琦變,與葉片實(shí)際邊界存在較大的偏差;提高電壓后,提取的邊界與實(shí)際邊界的一致性也得到提高。

磁粉探傷機(jī)散射線校正對(duì)邊界提取的影響

三維錐束成像中散射線對(duì)圖像的質(zhì)量影響很大,故射線不僅與周固的環(huán)境有關(guān),還與被檢物體的形狀結(jié)構(gòu)有關(guān)[1,散射線對(duì)復(fù)雜形狀的葉片成像影響特別嚴(yán)重,康普頓效應(yīng)和光電效應(yīng)均會(huì)造成X射線的版射,散射線使探測(cè)器探測(cè)到的信號(hào)值離射線強(qiáng)度的真實(shí)值,從而導(dǎo)致圖像的對(duì)比度降低,嚴(yán)重的散射會(huì)在圖像上產(chǎn)生陰影,影響圖像邊界的識(shí)別,為了驗(yàn)證散射線對(duì)葉片掃描圖像的影響,進(jìn)行了散射線校正前后的圖像對(duì)比試驗(yàn)。

400 kV掃描電壓下散射線校正前后的邊界提取圖像。與散射線校正后的邊界提取圖像對(duì)比,未經(jīng)散射線校正的圖像,邊界提取不完這,葉盆較薄部位的邊界無(wú)法識(shí)別,邊界發(fā)生中場(chǎng);而經(jīng)過(guò)故射線校正后的圖像,其背景清晰,可以識(shí)別完整清晰的邊界,圖像質(zhì)量較校正前得到明顯提高。

430kV掃描電壓下散射線校正麗后的邊界觀取圖像如圖5所示,與 400 kV的掃描電壓圖像對(duì)比,未經(jīng)散射線校正的提取邊界仍存在斷續(xù)·但斷續(xù)部分有所潑少,提高電壓對(duì)邊界提情況有所改善,但改善較小;經(jīng)過(guò)校正后的圖像提取的邊界完整清商,即相對(duì)于電壓而言,散射線對(duì)圖像質(zhì)量的影響更大,在保證電壓能夠穿透物體的情況下,校正散射線更為重要,經(jīng)過(guò)散射線校正的圖像質(zhì)量明顯變好,可以一次提取完整的邊界,滿足自動(dòng)測(cè)量的條件。